@conference {scheuermann1995,
	title = {Oberfl{\"a}chenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statistischer Rauschmuster},
	booktitle = {Proc. 17. DAGM-Symposium Mustererkennung, Bielefeld, 13.-15. September 1995},
	year = {1995},
	pages = {319--326},
	author = {Scheuermann, T. and Pfundt, G. and Eyerer, P. and Bernd J{\"a}hne}
}
