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 Scheuermann, T, Pfundt, G, Eyerer, P and J\'e4hne, B (1995). Oberfl\'e4chenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statistischer Rauschmuster. Proc. 17. DAGM-Symposium Mustererkennung, Bielefeld, 13.-15. September 1995. 319--326\par \par }