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 G\'f6rlitz, L, Hamprecht, F A and Staudacher, M (2009). Allocation of particles to development processes. Patent\par \par  G\'f6rlitz, L, Menze, B H, Kelm, B Michael and Hamprecht, F A (2009). Processing Spectral Data. Surface and Interface Analysis. 41 636-644\par \par  Staudacher, M, Hamprecht, F A and G\'f6rlitz, L (2009). Self Adjustment of Scanning Electron Microscopes / Selbstadaptivit\'e4t von Rasterelektronenmikroskopen. Patent, Patent Number  WO2009062781A1\par \par  Staudacher, M, Hamprecht, F A and G\'f6rlitz, L (2008). Method for processing an intensity image of a microscope. Patent, Patent Number: WO2008034721A1\par \par  G\'f6rlitz,  (2007). Modern Concepts for Semi-Supervised Learning and Multidimensional Image Processing. University of Heidelberg\par \par  G\'f6rlitz, L, Singh, M and Sch\'fctzbach, P (2007). Schnelle 3D-Vermessung von Partikeln in Rasterelektronenmiskroskopen mit Hilfe eines R\'fccksteuerdetektors\par \par  G\'f6rlitz, L, Menze, B H, Weber, M - A and Kelm, B Michael (2007). Semi-Supervised Tumor Detection in MRSI With Discriminative Random Fields. Pattern Recognition. Springer. 4713 224-233\par \par  G\'f6rlitz, L, Hamprecht, F A and Staudacher, M (2005). Detektion von Partikeln in Intensit\'e4tsbildern mit Hilfe eines morphologischen Skalenraumes. Robert-Bosch GmbH, University of Heidelberg\par \par  Strobel, J, G\'f6rlitz, L and Staudacher, M (2005). Verfahren und Pr\'fcfk\'f6rper zur Bestimmung der Reinigungswirkung in einem Ultraschallbild\par \par }