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V
Strobel, J, Görlitz, L and Staudacher, M (2005). Verfahren und Prüfkörper zur Bestimmung der Reinigungswirkung in einem Ultraschallbild
S
Staudacher, M, Hamprecht, F A and Görlitz, L (2009). Self Adjustment of Scanning Electron Microscopes / Selbstadaptivität von Rasterelektronenmikroskopen. Patent, Patent Number WO2009062781A1PDF icon Technical Report (46.64 KB)
M
Staudacher, M, Hamprecht, F A and Görlitz, L (2008). Method for processing an intensity image of a microscope. Patent, Patent Number: WO2008034721A1PDF icon Technical Report (39.81 KB)
D
Görlitz, L, Hamprecht, F A and Staudacher, M (2005). Detektion von Partikeln in Intensitätsbildern mit Hilfe eines morphologischen Skalenraumes. Robert-Bosch GmbH, University of Heidelberg
A
Görlitz, L, Hamprecht, F A and Staudacher, M (2009). Allocation of particles to development processes. PatentPDF icon Technical Report (406.7 KB)