| Title | Oberflächenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statistischer Rauschmuster |
| Publication Type | Conference Paper |
| Year of Publication | 1995 |
| Authors | Scheuermann, T, Pfundt, G, Eyerer, P, Jähne, B |
| Conference Name | Proc. 17. DAGM-Symposium Mustererkennung, Bielefeld, 13.-15. September 1995 |
| Citation Key | scheuermann1995 |
