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S
Scheuermann, T, Pfundt, G, Eyerer, P and Jähne, B (1995). Oberflächenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statistischer Rauschmuster. Proc. 17. DAGM-Symposium Mustererkennung, Bielefeld, 13.-15. September 1995. 319--326